FAU - Friedrich Alexander Universität Erlangen Nürnberg

3D Laserscan-Mikroskop

Spezifikation

 
Vergrößerung 18000-fach
Anzeigeauflösung

2048x1536 (superfein)

1024x768 (fein, schnell)
optischer Zoom

1 bis 6 x

 

 

Abmessungen und weitere Daten
max. Probenhöhe
 28 mm
max. Probengröße
 318 mm
Messbereich (Höhenmessung) 7 mm

Verantwortlich:

Martina Beimler